1、若测得T2-T1,、T2-G之间的正反向电阻较小甚或等于零.而Tl-G之间的正反向电阻很小或接近于零时.就说明双向可控硅的性能变坏或击穿损坏。不能使用; 2、如果测得T1-G之间的正反向电阻很大(接近∞)...
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可控硅好坏测量方法 |
双向触发二极管怎么测好坏,二极管符号中间加一横的是什么
ˋ▽ˊ 对于双向触发二极管的性能测试,我们通常使用万用表。 具体检测步骤如下:首先将万用表调至阻值档,将红、黑测试笔分别连接到双向触发二极管的两端。 注意,此时的测试引线连接方法应该测量双向触发二极管的质量。通常需要使用一些基本的电子测量工具。这里有一个简单的步骤介绍:1.关闭电源:测量前请务必关闭电源,以免电路出现任何危险。 2.断开DIAC:连接DIAC
1.在万用表上选择电压测试位置,将测试端子分别连接到反向极和控制极;2.逐渐增加反向电压,在双向触发二极管达到额定反向电压之前,结果应该是开路;3. 当反向电压增加到其他反向电压时,可以通过一些基本的电子测试方法来测量双向触发二极管的质量。 这里有一个可能的测试方法:使用万用表:将万用表设置为二极管测试模式,通常是万用表上的二极管符号。 连接测试笔
元件的检测是工程师的基础技能,如何准确、有效地检测元件的相关参数并判断元件是否正常,并不是一刀切的,必须根据不同的元件采用不同的方法来判断元件。 设备正常(3)将被测双向触发二极管串联到万用表上(如图所示),然后测试主电源。 测得值为V1,然后将二极管极性反转,测得市电功率为V2(因万用表交流电压档有整流电路,所以被测触发二极管此处为正电压。
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